美國加州 Woo Sik Yoo博士 WaferMasters, Inc.
•WaferMasters,Inc。聯合創始人,總裁兼首席技術官
•日本京都大學電氣工程碩士與博士學位。美國西康乃狄克州立大學工商管理碩士學位
•美國羅德島州布朗大學材料科學與工程系的訪問科學家(1993年~1994年)
•設計Wafermasters基於拉曼光譜的晶圓表面輪廓檢測系統&熱處理的單晶圓RTP系統、閃光退火系統、多波長拉曼光譜系統、多波長光致發光(PL)等研究。
•開發工廠自動化,材料科學,生活科學,考古學,保護科學,環境科學和農業研究應用的圖像分析軟體。
•撰寫和共同撰寫了300多篇關於薄膜製程熱處理領域的論文,包含薄膜沉積,矽和半導體相關化合物半導體的材料表徵。
•在各種國際大數據會議與圖像處理技術會議上作為特邀發言人。
•與領先的半導體設備製造商和設備合作供應商。(S面板,S記憶體,T公司與L公司等等)
•2005年獲得固態電子元件與材料(SSDM)獎,持有62個美國專利獎和眾多外國專利。
•韓國知名的科技雜誌 (CAD&Graphics) 月刊已連載Dr.Yoo的Image processing 相關技術2年, CAD&Graphics預定2019年仍將繼續連載刊登,目前正在籌備出版Image processing 技術相關書籍。